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干涉成像系统 HTD系列

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干涉现象是光的波动特性的一个重要体现。在测量和检测等领域中,基于干涉原理,多种精确测量手段得以实现并能够实际应用。在对光学测量系统的分析中,物理光学和电磁场理论的知识是不可或缺的。只有在全面考虑如相干性、偏振性、衍射等物理光学效应的情况下,仿真结果的准确性才能够得以保障。

干涉成像系统 HTD系列是我司自主研发制造的用于光学干涉应用的产品系列,搭配高速相机、激光器等产品,适用于光学测量、光学检验等物理光学领域应用。此系列产品还支持客制化,可满足用户不同的实际需求。

— 产品特点 —

▶结构紧凑,抗震性能极佳

▶操作简便,可视化光调整

▶配件和参考标准镜头种类齐全,同时兼容各厂家标准镜头


— 技术参数 —


干涉成像系统-技术参数.jpg


— 应用领域 —


▶光学测量

▶光学检验

▶激光工程

▶红外探测


- 应用实例

应用实例.jpg


具体在供型号请咨询我司


联系电话:+86-755-83460457
联系邮箱:sales@hrtlaser.com
公司地址:深圳市福田区彩田路澳新亚大厦2609
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