干涉现象是光的波动特性的一个重要体现。在测量和检测等领域中，基于干涉原理，多种精确测量手段得以实现并能够实际应用。在对光学测量系统的分析中，物理光学和电磁场理论的知识是不可或缺的。只有在全面考虑如相干性、偏振性、衍射等物理光学效应的情况下，仿真结果的准确性才能够得以保障。
干涉成像系统 HTD系列是我司自主研发制造的用于光学干涉应用的产品系列，搭配高速相机、激光器等产品，适用于光学测量、光学检验等物理光学领域应用。此系列产品还支持客制化，可满足用户不同的实际需求。
—— 产品特点 ——
操作简便，可视化光调整
配件和参考标准镜头种类齐全，同时兼容各厂家标准镜头
—— 技术参数 ——
—— 应用领域 ——
光学检验
激光工程
红外探测
- 应用实例
具体在供型号请咨询我司
